考研網(wǎng) » 考試圖書 » 電子通信培訓(xùn)教材 » RFID通信測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用(“十一五”國(guó)家重點(diǎn)圖書出版規(guī)劃項(xiàng)目) .. » 全部考試圖書分類

圖書簡(jiǎn)介

品牌：圖書

詳情

商品基本信息，請(qǐng)以下列介紹為準(zhǔn)
商品名稱：	RFID通信測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用(“十一五”國(guó)家重點(diǎn)圖書出版規(guī)劃項(xiàng)目)
作者：	劉巖
市場(chǎng)價(jià)：	65元
文軒網(wǎng)價(jià)：	52元【80折】
ISBN號(hào)：	9787115223173
出版社：	人民郵電出版社
商品類型：	圖書

其他參考信息（以實(shí)物為準(zhǔn)）
裝幀：平裝	開(kāi)本：16開(kāi)	語(yǔ)種：中文
出版時(shí)間：2010-05-01	版次：1	頁(yè)數(shù)：
印刷時(shí)間：2010-05-01	印次：1	字?jǐn)?shù)：480000
溫馨提示：出版時(shí)間超過(guò)3年的圖書，因長(zhǎng)時(shí)間儲(chǔ)存可能會(huì)產(chǎn)生紙張缺陷，敬請(qǐng)諒解！

內(nèi)容簡(jiǎn)介

本書全面地介紹了RFID測(cè)試技術(shù)的相關(guān)內(nèi)容，主要包括RFID的基本知識(shí)、RFID標(biāo)準(zhǔn)化、測(cè)試場(chǎng)地、測(cè)試設(shè)備、RFID性能測(cè)試、RFID空中接口協(xié)議一致性測(cè)試和RFID射頻測(cè)試等。本書不僅重視對(duì)RFID測(cè)試技術(shù)的介紹，同時(shí)還在基于以往課題研究的基礎(chǔ)上介紹了RFID環(huán)境影響測(cè)試、RFID自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)、RFID標(biāo)簽測(cè)試實(shí)例和UHF頻段RFID業(yè)務(wù)干擾測(cè)試，注重于工程實(shí)踐，力圖給讀者提供最大程度的幫助。     本書適合RFID產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)上的相關(guān)技術(shù)人員閱讀，同時(shí)也可供大中院校和科研院所從事RFID測(cè)試的技術(shù)人員參考。

目錄

第1章  緒論 1.1  RFID技術(shù)簡(jiǎn)介 1.1.1  RFID技術(shù) 1.1.2  RFID技術(shù)的優(yōu)勢(shì) 1.1.3  RFID技術(shù)的應(yīng)用 1.1.4  RFID標(biāo)簽的工作頻率 1.1.5  RFID技術(shù)的分類 1.1.6  RFID技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì) 1.2  RFID在物聯(lián)網(wǎng)中的應(yīng)用 1.3  RFID測(cè)試的目的和意義 思考題 第2章  RFID技術(shù)的工作原理和系統(tǒng)組成 2.1  RFID技術(shù)的工作原理 2.1.1  RFID的基本通信原理 2.1.2  RFID的耦合方式 2.2  RFID系統(tǒng)的組成 2.2.1  標(biāo)簽 2.2.2  讀寫器 2.2.3  RFID中間件 思考題 第3章  RFID標(biāo)準(zhǔn)化 3.1  RFID標(biāo)準(zhǔn)的分類 3.1.1  RFID標(biāo)準(zhǔn)劃分原則 3.1.2  RFID不同頻段的標(biāo)準(zhǔn) 3.1.3  RFID不同行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn) 3.1.4  RFID不同應(yīng)用環(huán)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn) 3.2  RFID標(biāo)準(zhǔn)化組織 3.3  RFID標(biāo)準(zhǔn)介紹 3.3.1  ISO/IEC JTC 1/SC 31的RFID標(biāo)準(zhǔn)制定 3.3.2  UHF頻段空中接口標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC 18000標(biāo)準(zhǔn)系列 3.3.3  ISO/IEC 18000-6C(讀寫器到標(biāo)簽的通信) 3.3.4  ISO/IEC 18000-6C(標(biāo)簽到讀寫器的通信) 思考題 第4章  測(cè)試場(chǎng)地 4.1  開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng) 4.1.1  開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)的定義 4.1.2  開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)的環(huán)境要求 4.2  屏蔽室 4.2.1  屏蔽效能 4.2.2  屏蔽材料 4.2.3  輔助設(shè)施 4.3  電波暗室 4.3.1  電波暗室的定義 4.3.2  電波暗室的分類 4.3.3  電波暗室的技術(shù)指標(biāo) 4.3.4  半電波暗室的設(shè)計(jì) 4.4  橫電磁波室 4.4.1  橫電磁波小室簡(jiǎn)介 4.4.2  吉赫茲?rùn)M電磁波小室 思考題 第5章  測(cè)試設(shè)備 5.1  測(cè)量接收機(jī) 5.1.1  測(cè)量接收機(jī)的基本原理 5.1.2  測(cè)量接收機(jī)的技術(shù)參數(shù) 5.1.3  測(cè)量接收機(jī)的輔助設(shè)備 5.2  頻譜分析儀 5.2.1  頻譜分析儀的基本原理 5.2.2  實(shí)時(shí)頻譜分析儀和掃頻頻譜分析儀 5.3  泰克公司的實(shí)時(shí)頻譜分析儀 5.3.1  實(shí)時(shí)頻譜分析儀原理 5.3.2  實(shí)時(shí)觸發(fā)功能 5.3.3  頻譜圖測(cè)試 5.3.4  時(shí)間相關(guān)的多域分析 5.3.5  RSA3408A的技術(shù)指標(biāo) 5.3.6  RSA3408A測(cè)試RFID信號(hào)的操作 5.4  測(cè)試天線 5.4.1  天線的技術(shù)參數(shù) 5.4.2  常見(jiàn)天線簡(jiǎn)介——線天線 5.4.3  常見(jiàn)天線簡(jiǎn)介——面天線 思考題 第6章  RFID性能測(cè)試 6.1  RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法 6.1.1  基本概念 6.1.2  測(cè)試環(huán)境 6.1.3  測(cè)試參數(shù) 6.1.4  測(cè)試方法 6.1.5  測(cè)試結(jié)果報(bào)告 6.2  標(biāo)簽性能測(cè)試方法——電感耦合型RFID標(biāo)簽測(cè)試 6.2.1  識(shí)別磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值 6.2.2  讀磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值 6.2.3  寫磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值 6.2.4  最大工作磁場(chǎng)強(qiáng)度 6.2.5  生存磁場(chǎng)強(qiáng)度 6.2.6  負(fù)載調(diào)制 6.3  標(biāo)簽性能測(cè)試方法——電磁場(chǎng)傳播型RFID標(biāo)簽測(cè)試 6.3.1  識(shí)別電磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值和頻率峰值 6.3.2  讀電磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值 6.3.3  寫電磁場(chǎng)強(qiáng)度閾值 6.3.4  靈敏度降級(jí) 6.3.5  最大工作電磁場(chǎng)強(qiáng)度 6.3.6  生存電磁場(chǎng)強(qiáng)度 6.3.7  雷達(dá)散射截面變化和角度信息 6.3.8  干擾抑制 6.3.9  最大識(shí)別變化率 6.3.10  最大寫變化率 思考題 第7章  RFID空中接口協(xié)議一致性測(cè)試 7.1  RFID空中接口和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 7.1.1  RFID空中接口 7.1.2  RFID空中接口協(xié)議相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 7.2  HF頻段空中接口協(xié)議一致性測(cè)試 7.2.1  測(cè)試輔助設(shè)備——校準(zhǔn)線圈 7.2.2  測(cè)試輔助設(shè)備——讀寫器測(cè)試裝置 7.2.3  測(cè)試輔助設(shè)備——參考標(biāo)簽 7.2.4  測(cè)試輔助設(shè)備——數(shù)字采樣示波器 7.2.5  測(cè)試附件參數(shù)設(shè)置 7.2.6  標(biāo)簽一致性測(cè)試 7.2.7  讀寫器一致性測(cè)試 7.3  UHF頻段空中接口協(xié)議一致性測(cè)試 7.3.1  測(cè)試環(huán)境電磁噪聲要求 7.3.2  讀寫器測(cè)試裝置 7.3.3  標(biāo)簽測(cè)試裝置 7.3.4  讀寫器測(cè)試 7.3.5  標(biāo)簽測(cè)試 思考題 第8章  RFID射頻測(cè)試 8.1  中國(guó)UHF頻段RFID技術(shù)應(yīng)用規(guī)定 8.2  RFID射頻測(cè)試項(xiàng)目 8.2.1  中國(guó)RFID試行規(guī)定中的測(cè)試項(xiàng)目 8.2.2  EPC global中的測(cè)試項(xiàng)目 8.3  實(shí)時(shí)頻譜分析儀的設(shè)置 8.4  射頻測(cè)試項(xiàng)目的手動(dòng)測(cè)試方法 8.4.1  載波頻率容限 8.4.2  占用帶寬 8.4.3  發(fā)射功率 8.4.4  鄰道功率泄漏比 8.4.5  雜散發(fā)射 8.4.6  駐留時(shí)間 8.4.7  EPC global中的測(cè)試項(xiàng)目 思考題 第9章  RFID環(huán)境影響測(cè)試 9.1  讀寫距離和讀取率測(cè)試 9.1.1  讀寫距離測(cè)試 9.1.2  讀取率測(cè)試 9.2  金屬影響測(cè)試 9.2.1  金屬對(duì)讀寫器場(chǎng)的影響 9.2.2  金屬對(duì)標(biāo)簽天線的影響 9.3  介質(zhì)影響測(cè)試 9.3.1  不同介質(zhì)的影響 9.3.2  不同距離的影響 9.4  背景不敏感的天線設(shè)計(jì) 9.4.1  平面反F天線 9.4.2  天線尺寸的減小 9.4.3  環(huán)境的影響 思考題 第10章  RFID自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) 10.1  RFID自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述 10.1.1  自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介 10.1.2  虛擬儀器技術(shù) 10.1.3  RFID自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)狀 10.2  RFID射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) 10.2.1  RFID射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述 10.2.2  測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試項(xiàng)目 10.2.3  系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì) 10.2.4  系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì) 10.2.5  測(cè)試結(jié)果及報(bào)告生成 10.3  RFID協(xié)議一致性測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) 10.3.1  RFID協(xié)議一致性測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展現(xiàn)狀 10.3.2  測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)架方式 10.3.3  測(cè)試系統(tǒng)采用的關(guān)鍵技術(shù) 10.3.4  系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì) 10.3.5  系統(tǒng)的具體設(shè)計(jì) 10.3.6  RFID標(biāo)簽協(xié)議一致性測(cè)試演示 10.3.7  RFID讀寫器協(xié)議一致性測(cè)試演示 思考題 第11章  RFID標(biāo)簽測(cè)試實(shí)例 11.1  RFID標(biāo)簽在GTEM小室中的性能測(cè)試 11.1.1  RFID技術(shù)的現(xiàn)存問(wèn)題 11.1.2  RFID標(biāo)簽測(cè)試設(shè)備 11.1.3  測(cè)試方法和流程 11.1.4  測(cè)試結(jié)果分析 11.2  最大讀取距離測(cè)試 11.3  方向靈敏度測(cè)試 11.4  標(biāo)簽性能差異測(cè)試 11.5  金屬和水附近的讀取性能測(cè)試 11.5.1  材料前標(biāo)簽的讀取性能 11.5.2  材料前標(biāo)簽的頻率響應(yīng) 思考題 第12章  UHF頻段RFID業(yè)務(wù)干擾測(cè)試 12.1  RFID業(yè)務(wù)與立體聲廣播傳輸業(yè)務(wù)的干擾測(cè)試 12.1.1  測(cè)試目的 12.1.2  測(cè)試方案 12.1.3  RFID系統(tǒng)和STL系統(tǒng)測(cè)試 12.1.4  傳導(dǎo)干擾測(cè)試 12.1.5  現(xiàn)場(chǎng)干擾測(cè)試 12.1.6  測(cè)試結(jié)論 12.2  RFID業(yè)務(wù)與無(wú)中心對(duì)講機(jī)業(yè)務(wù)的干擾測(cè)試 12.2.1  測(cè)試目的 12.2.2  測(cè)試方案 12.2.3  測(cè)試過(guò)程 12.2.4  測(cè)試結(jié)論 12.3  RFID業(yè)務(wù)與GSM業(yè)務(wù)的干擾測(cè)試 12.3.1  測(cè)試目的 12.3.2  測(cè)試方案 12.3.3  測(cè)試過(guò)程 12.3.4  測(cè)試結(jié)論 12.4  MHz頻段RFID設(shè)備讀取900MHz頻段標(biāo)簽的測(cè)試 12.4.1  測(cè)試目的 12.4.2  測(cè)試方案 12.4.3  測(cè)試過(guò)程 12.4.4  測(cè)試結(jié)論 思考題 附錄  RFID應(yīng)用方案測(cè)試場(chǎng)景設(shè)計(jì) 參考文獻(xiàn)

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