1. 能說明一下數(shù)字電橋部份符號標識的釋義嗎？
答：L：電感；C：電容；R：電阻；
B：電納；D：損耗；G：電導(dǎo)；
Q：品質(zhì)因數(shù)； X：電抗；Z：阻抗；θ：相位角；
DC：直流；AC：交流；
FREQ：頻率；STORE：存儲；RECAL：調(diào)用儀器設(shè)置；
AUTO：自動；MODE：模式；
SER：等效串聯(lián)；PAR：等效并聯(lián)。
2. 不同的測試頻率對元器件測試有影響嗎？
答：有。
3. 測試電壓不同對元器件測試有影響嗎？
答：有。
4. 對于一個已知的“電容”，使用者應(yīng)該選用什么樣的測試條件？
答：（1）小于 100pF 電容用 1MHz（如果數(shù)字電橋具備這個檔位的話）頻率測量；
（2）中等容量，如 1000pF-10uF 電容，1kHz、10kHz、100kHz 應(yīng)該選擇選哪
一個檔位，國家標準，測試中等電容的測試頻率標準是 1kHz。電解類，如鋁電
解，鉭電解等用 100Hz 或 120Hz；
（3）從電平的角度來說，大部分電容對測試電平不敏感，因此，不同電平測
試變化不大，但有些介電常數(shù)大的電容對測試電平非常敏感，故應(yīng)根據(jù)實際需
要仔細選擇測試電平。一些入門級的數(shù)字電橋沒有該選項，只能使用默認測試
電平進行測試。
LCR數(shù)字電橋使用問答
5. 測試信號電平是什么意思？
答：施加于被測元器件上的電平是十分重要的。實際施加于被測件上的電平（電
壓或電流）與儀器信號源阻抗有關(guān)，雖然儀器電平相同，若信號源阻抗不同，
實際施加于被測件上的電平就不同。
6. 數(shù)字電橋測量的準確度如何？
答：測量準確度是反映儀器性能的主要指標之一。確切了解所需儀器的準確度
是準確評價元器件優(yōu)劣的關(guān)鍵。一般來講，儀器本身的準確度應(yīng)比測量元器件
的技術(shù)指標要求高。通常，儀器設(shè)備或其宣傳資料給出的參數(shù)是在一定條件下
的*高準確度，也就是所謂的理論值。
實際上，無論是數(shù)字電橋還是其它設(shè)備，參數(shù)標稱值與實際值均存在或多
或少的差異，這是使用者應(yīng)該清楚并注意的。要想了解被測量元器件在測量頻
率下呈現(xiàn)的阻抗、以及對應(yīng)測量條件下，測試儀器的準確度是否滿足測量要求，
那么，充分了解儀器的測量準確度是極為重要的。
當然，測試準確度與所給定的測試條件密切相關(guān)，這一點，同樣不能忽視。
須知，即使是相同基本準確度的儀器，其在不同量值被測元器件和不同頻率下
其準確度是有很大區(qū)別的。
7. 什么是損耗？品質(zhì)因數(shù) Q 值?
答：D、Q 兩者互為倒數(shù)，其計算方法為被測元器件的有功功率 PR（電阻器耗能）
與無功功率 PC（電容器儲能）或 PL（電感器儲能）的比值，對串聯(lián)和并聯(lián)等效
電路使用下式計算：=Rs/|Xs|，D=|Xp|/Rp，D 和 Q 的值與等效方式無關(guān)。
8. 怎樣選擇串聯(lián)和并聯(lián)測試參數(shù)?
答：（1）電容測量，可以兩個不同的測試頻率下?lián)p耗因子的變化性質(zhì)來決定，
若頻率升高而損耗增加，則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路測試模試；若頻率升高而損耗
減小，則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路測試模試。
（2）對于電感來說，情況正好與電容相反。實際中，器件的 D 不可能與頻
率完全成正比關(guān)系，其可能有并聯(lián)成分，也可能有串聯(lián)成分，應(yīng)看何種成分占
主導(dǎo)地位。
（3）根據(jù)元器件的*終使用情況來判定。如用于信號耦合電容，則*好選
擇串聯(lián)方式，旁路或并聯(lián)諧振則使用并聯(lián)等效電路。
（4）約定俗成的習(xí)慣是，低阻抗元件用串聯(lián)，從數(shù)值上說阻抗小于 100 歐
姆用串聯(lián)，大于 10 千歐用并聯(lián)，阻抗大于 100 歐姆-10 千歐的，根據(jù)實際情況
（主要是指元器件的使用場合及使用要求）選擇。
9. 什么叫等效串聯(lián)電阻 Rs？等效并聯(lián)電阻 Rp?
答：任何一個被測元器件都可以等效為一個串聯(lián)電路或并聯(lián)電路，串聯(lián)電阻 Rs
為串聯(lián)等效電路中的電阻部分，Rs 也叫 ESR，并聯(lián)電阻 Rp 為并聯(lián)等效電路中的
電阻部分，Rp 也叫 EPR。
10. 怎樣選擇測試速度?
答：一般來說，測試速度是以犧牲測試精度為代價的。速度越快，精度越差，
讀數(shù)穩(wěn)定性差，有效位數(shù)變少。如果要求測試精度，一般選擇慢速，要考慮測
試速度和測試精度就選擇中速。通常情況下，大多選擇中速檔位進行測試。
11. 儀器為什么要進行清零?
答：（1）由于儀器本身的漂移，會疊加一些雜散成份，如接觸電阻、電感、并
聯(lián)電容等，不清零就會有誤差。
（2）短路清零對小阻抗器件更為有效，開路清零對高阻抗器件更有效。
12. 有些 LCR 數(shù)字電橋選配 GPIB 接口有什么作用？
答：這種功能大多出現(xiàn)在稍**的電橋上。主要是使設(shè)備通過 GPIB 接口和電腦
相連，編寫相應(yīng)的軟件，可以實現(xiàn)用電腦控制儀器，進行自動測量。對于一般
應(yīng)用而言，GPIB 接口功能可不必考慮。
13. 什么是負載校準，負載校準應(yīng)注意哪些問題？
答：負載校準是一種的**的儀器校準方法，可以使儀器在高于儀器原有準確
度的基礎(chǔ)上測量元器件，主要用于下面兩種情況：
（1）當有更準確的元器件并需對同規(guī)格元器件進行更高準確度的測量。
（2）統(tǒng)一現(xiàn)場所有 LCR 數(shù)字電橋的測試數(shù)據(jù)。
14. 掃頻清零方式和點頻清零方式有何區(qū)別?
答：（1）掃頻一般針對實際測試頻率點比較多的被測元器件，點頻清零一般針
對只要一個頻點的被測元器件；
（2）掃頻清零耗時較長。如同惠 TH2816A 電橋，無論短路清零，還是開路
清零，均采用的是掃頻清零方式。
15. 測量的顯示范圍和精度范圍有何區(qū)別?
答：測量的顯示范圍一般大于測試設(shè)備所標識的精度范圍。
16. 輸出阻抗不同對測試結(jié)果有什么影響？為什么有的儀器有 30Ω和 100Ω
的內(nèi)阻選擇？
答：（1）儀器輸出阻抗不同，會導(dǎo)致被測元器件上施加的測試信號不同，*終
會導(dǎo)致顯示參數(shù)的差異和不同。
（2）測試時，測試信號其實是被測件與儀器內(nèi)阻輸出阻抗串聯(lián)在一起，會
對信號產(chǎn)生分壓作用。因此，低阻抗測試實際加到被測器件上的電平小于設(shè)定
電平。30Ω兼容較老款式電橋，100Ω可與進口（如 Agilent）儀器設(shè)備匹配。
17. 有些電橋的 P1\P2\P3 有何具體意義?
答：儀器的 P1\P2\P3 用于元器件的**品、二級品、三級品的等級分選。通常
情況下，**品的百分比極限小于二級品極限，二級品的百分比極限小于三級
品極限。
18. 同一電感在不同廠家的 LCR 儀器上用相同測試條件，為什么測試數(shù)據(jù)會
有很大差別?
答：（1）絕大多數(shù)電感都帶有鐵芯磁芯，而帶有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁
場非常敏感，磁場與測試信號電流成正比，因此相同電平若內(nèi)阻不同，電流就
會不一樣，則結(jié)果有很大差別。這是客戶電感測試時遇到的普遍問題。
（2）判定儀器測試電感的一致性原則，應(yīng)該是施加與被測件上的電流要一
致。但有一個特例需要注意，就是空心電感與磁場不在此例。
LCR數(shù)字電橋使用問答
19. 為什么有時器件會顯示“-”值?
答: （1）過度清零或不適當?shù)那辶?。?/span>2）受限于儀器的精準度。
20. 增加測試線的長度對測試有沒有影響？
答：有。一般 LCR 數(shù)字電橋出廠時，采用 1 米長的線進行校準，如超過 1 米，
則需要重新校準。
21. 儀器的自動和保持有什么實際作用?
答：儀器的自動檔位，一般用于未知大小的元器件的測試；而保持檔位，一般
用于大小已經(jīng)確定的元器件測試；保持功能可以提高儀器的測試效率，還可以
起到延長儀器內(nèi)部繼電器的使用壽命的作用。
22. 電橋的串行軟件有何功能?
答：一些電橋設(shè)置有串行接口，供串行軟件和電腦連接使用，以便實現(xiàn)統(tǒng)計分
析或者自動測試功能。
23. 儀器可以測貼片元器件嗎?
答：當然可以，只要配置（大多是選配）專用 SMD 測試夾具就可以測試貼片元
器件了，SMD 測試夾具分為兩端口夾具和四端口夾具。
24. 直流偏置電流源在有些頻率下為何無法清零?
答：交流輸出阻抗頻響不一致，在某些頻率點可能產(chǎn)生諧振，因此，無法完全
清零。
25. 測試信號電平相關(guān)性是什么意思？
答：所有元器件均存在信號電平的相關(guān)性。即在規(guī)定測試頻率下，元器件數(shù)值
與信號電平的大小有關(guān)。有些元器件對電平的變化不敏感，而有些元器件對信
號電平具有極強的敏感性，如高 K（高介電常數(shù)）值的陶瓷電容，高導(dǎo)磁率的電
感器等。因此，對此類器件規(guī)定其測量信號電平（電壓或電流）是非常重要的。
26. 測試時，頻率設(shè)置越高越準確嗎？
答：不是。測試時，測試頻率高低選擇，取決于被測元器件本身，包括元器件
的使用場合。
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